Este artículo presenta un análisis de la confiabilidad en los circuitos electrónicos de potencia de tres sistemas fotovoltaicos interconectados a la red eléctrica. El análisis se enfoca principalmente a la verificación del tiempo medio de fallas, y se realiza mediante el procedimiento establecido en el estándar militar MIL-HDBK 217F. Los circuitos analizados son: una topología integrada, una configuración de dos etapas y una configuración de tres etapas, todas ellas en modo de conmutación dura. Se identificaron los componentes más propensos a fallar y los factores de esfuerzo que mayor contribución tienen sobre la tasa de fallo. Se determinó que los transistores MOSFET son los elementos con menor confiabilidad y que el factor de ajuste dominante es el relacionado con la temperatura. La confiabilidad puede mejorarse sobredimensionando la capacidad de los dispositivos de conmutación; sin embargo, el uso de dispositivos excesivamente sobredimensionados puede resultar contra-producente.

Chan Puc, F. & Calleja Gjumlich, H. (2008). Reliability Analysis of the Power-Electronics Stages in Grid-Connected PV Systems. Científica: La Revista Mexicana de Ingeniería Electromecánica, 12(3), pp. 149-155.